CR系统中曝光指数与X线曝光量的相关性初探

摘要：

曝光指数是CR系统内部的曝光计量表根据入射到IP板上的X线平均照射量做出的相对估算值,主要用于核定摄影技术条件正确与否的<””5”>.随着数字影像系统CR的广泛应用,为得到优质的图像,曝光指数成为了数字影像技术的重要研究对象.国内尚未有关于EI的相关文献.

关键词： CR系统 曝光指数 X线曝光量 曝光计量表 数字影像系统 X线数字摄影

作者: 汪晓鹏 陈皓 刘振生 陈幼华 魏嘉萍 王振常 鲜军舫

作者单位: 首都医科大学附属北京同仁医院放射科(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004全国医用辐射防护与安全学术研讨会

会议地点: 海口

会议语种:中文

页码: 201-204

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）