一种诊断芯片内部逻辑故障的边界扫描方法

摘要：

本文根据芯片内部逻辑设计测试向量和理论响应向量,通过边界扫描结构将测试向量送到内核,并且采集内核输出的逻辑向量响应,比较采集到的逻辑响应向量与理论响应向量之间的差异,对出现异常的逻辑实现诊断.向量的输入和采集与外围电路无关,结果分析由软件实现,测试时间短,故障诊断率高.

关键词： 边界扫描 内部逻辑故障 故障诊断

作者: 李源 蔡慧敏 周鲍毅 高飞

作者单位: 青岛海洋大学计算机学院(青岛) 海军航空工程学院青岛分院航空电子系(青岛)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十届青年学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 596-599

在线出版日期: 2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）