单元互耦对自适应阵性能影响的矩量法分析与计算

摘要：

本文利用矩量法分析单元互耦对阵列信号模型的影响,计算了互耦影响下自适应阵列的各种性能参数,并与不计互耦进行了比较,最后总结并比较了几种常见的互耦校正方法.文中所做的分析与计算对进一步分析单元互耦影响下的阵列性能具有一定的指导意义.

关键词： 阵列天线 互耦校正 阵列单元 自适应阵参数

作者: 吴世龙 王江

作者单位: 电子工程学院206研究室(合肥) 电子工程学院320教研室(合肥)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十届青年学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 651-654

在线出版日期: 2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）