半导体器件空间辐射总剂量效应

摘要：

空间辐射总剂量效应是引起航天器故障最主要的因素之一.本文主要介绍了,半导体器件辐射总剂量效应的机理,影响器件辐射损伤程度的因素,及器件抗辐射总剂量的测试方法.

关键词： 电离辐射 空间总剂量效应 半导体器件

作者: 孙越强 朱光武 王世金 梁金宝 王晶 陶鹏 杜起飞

作者单位: 中国科学院空间科学与应用研究中心(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国空间科学学会空间探测专业委员会第十七次学术会议

会议地点: 乌鲁木齐

会议语种:中文

页码: 494-499

在线出版日期: 2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）