电子元器件辐照分布规律研究

摘要：

对统计分布的检验方法理论进行了分析研究,并使用典型电子元器件的辐照试验数据,对夏皮偌-威尔克检验(Shapiro-Wilk)和作图法在抗辐射加固元器件验收中的应用进行了相关的说明和验证.

关键词： 抽样方案 辐照试验 分布 电子元器件 辐照试验 夏皮偌-威尔克检验 作图法 抗辐射加固元器件

作者: 余彦胤

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所(四川绵阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 398-400

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）