集成电路EMP瞬态扰动效应实验方法探索

摘要：

研究集成电路的瞬态扰动特性,需要从其耦合途径着手.EMP耦合主要经过电缆(天线)耦合,最终转化为脉冲电流电压通过电缆对集成电路的I/O口造成影响.针对电路系统的结构特征,对电路系统内集成电路受EMP影响进行分析,对集成电路EMP效应实验电路注入法进行探索,提出几种实验方法.

关键词： 集成电路 EMP效应 瞬态扰动 实验方法 电流注入法

作者: 李小伟

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所(四川绵阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 396-397,400

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）