用于时间测量电路的程控延迟产生器

摘要：

描述了用于测试第三代北京谱仪(BESⅢ)漂移室电子学时间测量电路的程控延迟产生器插件,插件提供了时间测量电路在运行时所需要的外部控制信号,并采用AD9500数字可程控延迟产生器,给出了测试电路性能指标的可程控延迟信号,其最小分辨可达10ps.插件设计符合VME规范.

关键词： 时间测量 数字可程控延迟产生器 VME规范 北京谱仪 可程控延迟信号 漂移室 电子学系统

作者: 赵平平 盛华义 代洪亮 赵豫斌

作者单位: 中国科学院高能物理研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 28-30

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）