Au-Si面垒探测器及其在鉴别带电粒子研究中的应用

摘要：

简要介绍了制作厚度为450μm,直径为φ8mm的Au-Si面垒探测器的主要工艺流程及该探测器的主要性能指标.同时具体介绍了通过调节探测器上的偏压,改变Au-Si面垒探测器灵敏区厚度,实现对不同能量、种类带电粒子的鉴别方法,并将该方法应用于鉴别D-D和D-T核反应中出射的带电粒子.

关键词： 金硅面垒探测器 能量分辨率 带电粒子 鉴别 工艺流程 性能指标

作者: 王柱生

作者单位: 中国科学院近代物理研究所(甘肃兰州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 242-244

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）