用正比管代替Si-PIN探测器测铜矿品位

摘要：

给出了一台SZ-2X射线荧光分析仪上的Si-PIN探测器用国产TX410薄窗高分辨正比计数管替代,测云南某铜矿Cu、Fe、S、SiO<,2>的含量.结果和Si-PIN探测器、化学法三者作了比较.用正比计数管替代的那一台SZ-2仪表在现场已24h连续工作2年多.

关键词： 铜矿品位分析 X荧光分析 Si-PIN探测器 正比计数管

作者: 童格后 陆炜忠

作者单位: 上海秋伊电子器件厂(上海) 中国科学院应用物理研究所(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 140-141

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）