基于中子照相的导爆索缺陷检测的蒙卡模拟计算

摘要：

导爆索缺陷检测是中子照相的重要应用领域之一,中子束能谱、滤束材料及中子散射等因素都会影响导爆索图像对比度.采用Monte Carlo方法计算了这些因素的影响,并给出了定量的结果,计算采用MCNP/4B软件.

关键词： 中子照相 Monte Carlo方法 能谱 导爆索 缺陷检测 中子束能谱

作者: 张强 缪正强 杨军

作者单位: 西北核技术研究所(陕西西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 113-115,71

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）