壳聚糖的基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱研究
壳聚糖有着广泛的应用前景,而对壳聚糖分子量及脱乙酰度的控制是一个迫切需要解决的问题.本工作拟利用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱(MALDI-TOFMS)对壳聚糖进行分析.以二羟基苯甲酸(DHB)为基质,二次结晶法制样分析壳聚糖,测量壳聚糖的分子量,获得壳聚糖的脱乙酰度信息,探讨壳聚糖的制备及其质量与性能控制意义.
壳聚糖 质谱分析 脱乙酰度
赵镇文 熊蕾 张英杰 辛斌 胡伟华 熊少祥
中国科学院化学研究所北京质谱中心(北京) 中国科学技术大学化学系(安徽合肥) 北京联合大学化学化工学院(北京)
国内会议
广西北海
中文
43-44
2004-10-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)