X荧光融片法测定硅铝铁和硅铝钡铁中硅铝

摘要：

采用铂坩埚熔融法制样,对硅铝铁、硅铝钡铁中主量元素硅和铝进行X荧光光谱法测定.采用四硼酸锂在铂金坩埚内熔融后挂壁形成保护膜,以过氧化钠和过氧化钡混合物作熔剂,碘化铵作脱膜剂.此法不仅克服了粒度效应,而且避免了铂金坩埚腐蚀的危险,由于它的高度均质化,提高了测量的准确度,测量结果令人满意.

关键词： 硅铝铁 硅铝钡铁 铂坩埚熔融法 X荧光光谱法 铁合金 基体效应

作者: 侯艳冰 赵伟 王国增

作者单位: 邯钢技术中心中心化验室(河北邯郸)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国金属学会第十二届分析测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 228-229

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）