X-射线荧光光谱压片法测定石灰石中的SiO<,2>,CaO,MgO

摘要：

石灰石是我公司进厂物资检验的项目之一,其主要成分为SiO<,2>,CaO,MgO,本文采用压片法进行X荧光测定,确定了制样条件,并采用仪器自带软件进行基体校正.与传统化学分析法相比较,检验过程快速,简便,人为误差小,且能有效降低检验成本,结果令人满意.

关键词： X荧光光谱法 基体校正 加压成片 石灰石

作者: 魏纯玉

作者单位: 济南钢铁集团总公司技术监督处(山东济南)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国金属学会第十二届分析测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 223-224

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）