偏振化能量色散X射线荧光光谱仪的新进展

摘要：

能量色散X射线荧光光谱仪,由于其仪器本身结构比较简单,X射线的分析线强度利用率高,又能同时接受所有X射线光谱,近年来逐渐被广泛采用.特别半导体技术飞跃发展,促使半导体探测器分辨能力的提高,目前商品化的Si(Li)漂移探测器在MnKα 5.9 keV处和计数率在10000cps以下时,其能量分辨率已达157eV,这样大大扩大它的使用.

关键词： X射线荧光光谱仪 分辨能力 波长色散 偏振化技术

作者: 谢荣厚

作者单位: 德国斯派克分析仪器公司北京代表处(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国金属学会第十二届分析测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 217-218

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）