ICP-AES测定氧化铁粉中杂质元素的研究

摘要：

研究了用ICP-AES法测定氧化铁粉中15种杂质元素的方法,建立了最佳工作条件,测定了方法的检出限、测定下限.进行了干扰试验、回收率试验、基体效应等试验,本方法快速、准确,结果令人满意.

关键词： 氧化铁粉 杂质元素 光谱分析

作者: 刘琰 阚斌 陈健

作者单位: 马钢股份公司技术中心化学室(安徽马鞍山)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国金属学会第十二届分析测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 135-137

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）