Al—N共掺N<,2>O—O<,2>气氛中制备p型ZnO薄膜

本文采用Al·N共掺的方法在N<,2>O-O<,2>气氛中制备p型ZnO薄膜,并讨论了薄膜的电学性能随靶材中铝含量以及气氛中N<,2>O分压比的变化情况.在靶材中铝含量为0.04wt﹪,N<,2>O分压较低以及铝含量0.5wt﹪,N<,2>O分压较高的条件下得到了p型ZnO,而当铝含量增加到2wt﹪时只能得到n型薄膜.随着靶材中铝含量和气氛中N<,2>O分压比的增大,薄膜的迁移率下降.
ZnO薄膜 p型导电 Al·N共掺 N<,2>O 磁控溅射
诸葛飞 朱丽萍 叶志镇 马德伟 赵炳辉 张正海 吕建国
浙江大学硅材料国家重点实验室(杭州)
国内会议
第十三届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议暨第九届全国固体薄膜学术会议
大连
中文
287-290
2004-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)