测控设备BIT设计研究

摘要：

在分析现代测控设备特点和研制现状的基础上,阐述了测控设备BIT的设计思想,并介绍了具体的实现方法和技术难点.指出了测控设备可测性研究的方向.

关键词： 测控设备 可测性 BIT 测试技术

作者: 刘钢 冯炳煊

作者单位: 北京跟踪与通信技术研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国遥测遥控技术年会

会议地点: 珠海

会议语种:中文

页码: 290-294

在线出版日期: 2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）