一种改进的全数字化锁相环在光栅位置检测中的应用

摘要：

全数字锁相环(ADPLL)应用广泛,但是在检测领域应用不多.为此,介绍了将一种改进的全数字化锁相环应用于光栅位置检测中的方法.该方法先将光栅传感器的输出信号进行相应调制预处理,再送入全数字锁相环中进行倍频细分,这样既避免了传统锁相环细分方法的缺点,又有细分数高,调节方便,捕捉范围宽的优点.

关键词： 全数字锁相环 光栅 位置检测 光栅传感器

作者: 王小兵 金锋

作者单位: 北京理工大学信息科学技术学院(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会第六届青年学术会议

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 641-643

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）