空调控温传感器短路失效分析与控制

摘要：

本文结合空调控温传感器的结构特点,分析了导致NTC热敏电阻短路失效的旁路并联电阻模型,通过样品解剖和能谱检测,证实了电极银离子迁移是导致热敏电阻形成旁路并联电阻失效的主要机理.文章还根据导致银离子迁移的环境条件,从使用和生产两个方面提出减少银迁移的控制措施,并介绍了评价金属离子迁移的相关标准.

关键词： NTC热敏电阻 银离子迁移 失效分析 传感器 空调控温

作者: 何小琦

作者单位: 信息产业部电子第五研究所(广东广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十三届电子元件学术年会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 317-321

在线出版日期: 2004-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）