在近场中以矩量法测量阵列天线单元方向图

摘要：

本文提出了一种在近场中以矩量法(MOM)测量阵列天线单元方向图的方法.这种方法的特点在于它可以测出阵列天线满阵工作时各个单元真实的方向图,这不仅对于测量整个阵列天线的性能,而且对于天线单元的检测都具有重要意义.

关键词： 近场测量 阵列天线 矩量法 单元方向图

作者: 王楠 杨仕明 薛正辉

作者单位: 北京理工大学电子工程系(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年全国电磁兼容学术会议暨微波电磁兼容第七届全国学术会议

会议地点: 宜昌

会议语种:中文

页码: 231-235

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）