R476阳极帽封接后出现发红缺陷的原因分析

摘要：

利用SEM和EDX及XRD等检测手段,从阳极帽外观,氧化膜形貌,氧化膜断面观察,氧化膜组成,材料化学成分,晶粒度,硬度几方面对封接后出现发红缺陷的R476阳极帽(简称R帽)和封接后合格的F476阳极帽(简称F帽)进行对比分析,结果表明,封接后外观出现发红缺陷的R帽比封接后外观合格的F帽氧化膜薄且氧化膜组成中尖晶石所占比例低.通过单独提高氧化露点,可使尖晶石增多,氧化膜增厚,可消除R帽封接后外观发红的缺陷.

关键词： 氧化膜 尖晶石 发红缺陷 氧化露点 玻璃封接 阳极帽 显像管玻壳 电子玻璃

作者: 杨小林

作者单位: 石家庄宝石电子集团有限责任公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国硅酸盐学会2004年电子玻璃技术研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 186-190

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）