用X射线荧光光谱仪分析氧化铝中Fe<,2>O<,3>、Na<,2>O、SiO<,2>含量

摘要：

采用X射线荧光光谱仪对氧化铝粉末中的Fe<,2>O<,3>、Na<,2>O、SiO<,2>含量进行分析确认研究,结果表明:氧化铝粉末颗粒度小于44μ,成型压力为20t时所制试样测定数据的精密度和准确度都较高,与化学分析法比较,本分析方法的绝对偏差值准确.同时,本分析方法操作简单,分析测定时间只需40S.

关键词： X射线荧光光谱仪 氧化铝 Fe<,2>O<,3> Na<,2>O SiO<,2>

作者: 许宁 许文前

作者单位: 贵阳耐火材料厂(贵阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年全国耐火材料综合学术年会

会议地点: 辽宁马鞍山

会议语种:中文

页码: 313-318

在线出版日期: 2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）