关于圆轨迹锥束CT的伪影成因及校正方法的综述

摘要：

圆轨迹锥束CT在工业无损检测领域内发挥着重要的作用.但在实践中,其重建的图像上有各种伪影.本文从CT的系统整体设计、X射线管和探测器等角度综述了影响伪影形成的各种因素,并对每种伪影的成因作了归纳;接着针对这些伪影,对近些年文献中的主要的校正方法作了介绍,并对这些校正方法作了比较和讨论,进行总结.

关键词： 圆轨迹锥束CT 无损检测 伪影校正

作者: 谷建伟 张丽

作者单位: 清华大学工程物理系(中国北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年全国射线检测新技术研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 165-169

在线出版日期: 2005-03-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）