LCR全自动闭环测试系统

摘要：

本文介绍了LCR全自动闭环测试系统的硬软件系统的设计与实现.系统以计算机和单片机控制器为核心,结合专门开发的测试和数据分析软件,实现LCR温度特性、频率特性的多通道自动测试和数据处理,克服了传统人工测试费时、重复性差、数据分析困难、检测环境难以控制等问题.

关键词： 测试仪 闭环测试系统 电子元件

作者: 陈伟 吉国力

作者单位: 厦门大学自动化系(福建厦门)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国自动化学会华东地区第十七届学术年会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 259-262

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）