应用于纳米级颗粒粒度分析的新型声波粒度仪

摘要：

声波粒度仪是近年来出现的一种可以准确测量超微细颗粒尺寸的仪器.本文介绍了该仪器的基本原理,并给出测定实例.该仪器是利用声波遇到粉体颗粒发生声衰减的现象,通过测定声衰减的程度来获得颗粒的粒度分布数据.

关键词： 颗粒粒度 声脉冲 声衰减 纳米级颗粒 粒度仪 粒度分布函数

作者: 潘志东 王燕民

作者单位: 华南理工大学材料科学与工程学院(广东广州) 华南理工大学材料科学与工程学院(广东广州);瑞典律里欧大学化冶工程系(律里欧)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国颗粒制备与处理学术暨应用研讨会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 8-14

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）