纳米颗粒粒度分析的新进展——CPS高速离心式纳米粒度分析仪

摘要：

本文对CPS纳米颗粒粒度分析仪从测量原理、研发历史、标定颗粒及其技术特点几方面作了详细的分析论述.指出CPS纳米粒度分析仪经过30年的发展已经达到高转速、高灵敏度,这样对于微克级的样品进行常规分析也变得可行.

关键词： 纳米颗粒 粒度分析仪 CPS系统 标定颗粒

作者: 熊向军

作者单位: 荷兰安米德上海代表处(上海市)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国颗粒制备与处理学术暨应用研讨会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 140-142

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）