八位微控制器测试芯片的VLSI设计和验证方法

摘要：

本文介绍了控制器/数据流和控制信号译码提前控制操作一个周期的设计方法.第一种设计方法是把芯片划分为控制器和数据通道两大部分分别设计,这种方法使得电路设计简单、易于优化.第二种方法使控制信号提前译码,这增加了建立时间的裕度,有利于电路的频率提升.本文还讨论了MCU核的验证方法和验证方案,这些方法应用于八位微控制器测试芯片的设计中,取得了良好的效果.

关键词： 控制器/数据流 验证方案 MCU核 节拍 测试芯片

作者: 王锐 杜高明 李灏 朱晓春

作者单位: 合肥工大微电子设计研究所(合肥) 合肥工大建筑设计院(合肥) 合肥工大计算机学院(合肥)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第13届计算机辅助设计与图形学学术会议暨全国第16届计算机科学与技术应用学术会议

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 611-615

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）