商品钴酸锂微结构表征

摘要：

采用X射线衍射、扫描电镜手段分析商品钴酸锂微结构,认为文献中常用采用的四类方法(c/a比值、I<,003>/I<,104>比值、I<,006>/I<,004>比值、I<,006>/I<,003>比值)表征产品质量,不具有显著性变化因而不适宜在商品LiCoO<,2>中应用.

关键词： 商品钴酸锂 XRD SEM

作者: 吕文广

作者单位: 宜兴新兴锆业有限公司(江苏宜兴)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国化工学会无机酸碱盐专业委员会2004年无机盐学术年会

会议地点: 张家界

会议语种:中文

页码: 221-224

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）