基于末端倒置的PLA可测性设计

摘要：

根据PLA电路结构的规整性和独特性,提出了一种末端倒置,纵向观测的逆向设计方案.此方案在保证故障检测覆盖率的情况下,不仅使用通用测试集,减少测试矢量数,还大大节约了附加硬件开销.文中从PLA的可测性设计现状入手,结合PLA电路的特点,逐步引出了新的设计方案,并阐明其工作过程.最后,就这种设计方案进行了故障测试分析和性能评估.

关键词： 可编程逻辑阵列 可测性设计 通用测试集 乘积线 移位寄存器 异或门串 PLA电路结构 片上系统

作者: 刘杰 梁华国

作者单位: 合肥工业大学计算机与信息学院(合肥)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第13届计算机辅助设计与图形学学术会议暨全国第16届计算机科学与技术应用学术会议

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 243-246

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）