失效连接器触点表面的SEM和EDS分析

摘要：

对某失效通信设备的分析表明,电子连接器的接触故障是其失效的主要原因之一.本文利用SEM和EDS分析故障连接器的接触表面,结合接触电阻测试结果,对其失效机理进行讨论.

关键词： 电子连接器 接触故障 失效机理 电子显微镜

作者: 冯萃峰 周怡琳

作者单位: 北京邮电大学自动化学院电接触科研室(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国电子显微学会议

会议地点: 威海

会议语种:中文

页码: 490-490

在线出版日期: 2004-08-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）