电子探针特征X射线谱线识别的方法研究

摘要：

特征X射线是电子探针分析的主要信息,根据特征频率(或波长)就可以识别样品中存在哪种元素,这是电子探针定性分析的基本原理.在定性分析的释谱过程中要注意谱线的判别,峰的重叠和X射线的形态变化所引起的峰位的变化.本文主要在EMX-SM7型电子探针上进行谱线分峰研究,鉴别干扰峰,提高分析的准确性和精度.

关键词： X射线谱线 探针分析 识别方法

作者: 姚立 田地 王微

作者单位: 吉林大学测试科学实验中心(吉林长春) 吉林大学电子科学与工程学院(吉林长春)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国电子显微学会议

会议地点: 威海

会议语种:中文

页码: 425-425

在线出版日期: 2004-08-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）