TEM图像分析测定片状粉体的三维粒度分布

摘要：

目前,多数粒度仪是以球形颗粒为模型设计的.用于由大量片状颗粒构成的粉体的测定,误差较大,测定结果不能反映不同方向的尺寸.由于片状颗粒处于平躺和竖立状态的图像差别很大,仅对其两维图像进行分析,难以给出三维粒度结果.为此,提出了金属投影透射电镜(TEM)图像分析测定粉体三维粒度分布的新方法.金属投影以后,样品的背后形成一电子透明的阴影区.通过图像分析测量颗粒的影长,计算大量颗粒的高度.

关键词： 图像分析 粒度分布 透射电镜 粉体测定

作者: 李正民 虞伟钧

作者单位: 山东理工大学材料科学与工程学院(山东淄博) 齐鲁石化研究院(山东淄博)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国电子显微学会议

会议地点: 威海

会议语种:中文

页码: 427-427

在线出版日期: 2004-08-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）