新断面/SEM技术在农产品加工研究中的应用

摘要：

农产品加工研究已成为与人民生活需求密切相关的重点研究项目.它对试材形态结构观察有独特的要求,既要求低放大倍数材料的结构组份观察,又要高倍数的细胞形态的研究.而光学显微镜和透射电子显微镜均不能同时满足二者的要求.本文应用新断面/SEM(扫描电子显微镜)方法,较容易而直观地得到农产品加工研究中试料的形态信息.

关键词： 农产品加工 结构观察 扫描电子显微镜

作者: 郝宏京 张波 孙英 陶亚中

作者单位: 中国农业科学院农产品加工研究所电镜室(北京) 中国农业大学食品学院(北京) 中国农业大学生物学院(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国电子显微学会议

会议地点: 威海

会议语种:中文

页码: 515-515

在线出版日期: 2004-08-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）