改进的双端测距算法

摘要：

双端故障测距由于不受过渡电阻和系统阻抗等因素的影响,得到了广泛的关注.但在利用长线方程沿线推导故障点电压幅值的测距算法则可能存在伪根的情况,论文对发生伪根的原因进行了深入的分析,在此基础上,对原算法进行了改进,使其更具通用性,并利用EMTP仿真验证了改进后的测距算法.

关键词： 双端测距算法 故障测距 电力系统

作者: 辛振涛 尹项根

作者单位: 华中科技大学电气与电子工程学院(武汉)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国高等学校电力系统及其自动化专业第20届学术年会

会议地点: 郑州

会议语种:中文

页码: 799-801

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）