多值逻辑电路测试的敏化路径法研究

摘要：

多值逻辑和多值逻辑电路近年来得到了越来越多的应用,研究多值逻辑电路的测试,给出了采用敏化路径法计算给定故障测试矢量的方法,并对多故障的测试生成进行了研究.结果表明若同时对故障位置的多条路径进行敏化,则可以方便地求出故障的测试矢量.

关键词： 多值逻辑电路 固定型故障 测试生成 路径敏化

作者: 潘中良

作者单位: 华南师范大学物理与电信工程学院(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届全国信息获取与处理学术会议

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 60-61

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）