陶瓷硅衬底上沉积多晶硅薄膜研究
本文采用陶瓷硅作为衬底材料,用RTCVD沉积制备了多晶硅薄膜.对薄膜的SEM表面形貌进行分析表明:薄膜的结构和形貌与沉积温度和衬底状况有关,高温下可以沉积得到大晶粒且致密的薄膜.应用Scherrer公式估算了薄膜的晶粒尺寸,与SEM图的结果相一致.Hall测量分析了薄膜的性能,薄膜的迁移率随沉积温度的增加而增加,电阻率随沉积温度的增加而降低.
陶瓷硅衬底 多晶硅薄膜 性能分析 太阳电池 薄膜沉积
廖华 林理彬 刘祖明 李景天 刘强 陈庭金 许颖
云南师范大学太阳能研究所(昆明);四川大学物理系,辐射物理及技术国家教育部重点实验室(成都) 四川大学物理系,辐射物理及技术国家教育部重点实验室(成都) 云南师范大学太阳能研究所(昆明) 北京市太阳能研究所(北京)
国内会议
上海
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149-152
2003-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)