SOLT校准法在MMIC去嵌入问题中的应用

摘要：

单片微波集成电路(MMIC)在当今电子业的巨大推动下得到迅速的发展,其中器件测试方法的准确度直接影响到模型库的建立,并进一步关系到产品的成本、周期和监测等问题.传统的MMIC去嵌入方法是基于等效电路模型进行网络参数剥离,随着新的化合物材料的应用使器件的工作频率不断提高,这时传统方法会带来很大误差.本文引入了SOLT校准方法利用误差网络来实现去嵌入,并给出测试方法的步骤,流片试验结果分别同三维全波电磁场仿真比较,证明本文的校准方法更具准确性和实用性.

关键词： 去嵌入 微波单片集成电路 电感

作者: 应子罡 吕昕 高本庆 李拂晓 高建峰

作者单位: 北京理工大学信息科学技术学院(北京);南京电子器件研究所(南京) 北京理工大学信息科学技术学院(北京) 南京电子器件研究所(南京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 测控、计量与仪器学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 549-552

在线出版日期: 2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）