一种测量硅片和太阳电池少子寿命分析仪的研究

摘要：

一种测量硅片和太阳电池少子寿命的分析仪被提出来,解决了微波晶体管测量微波反射功率的非线性问题.在小注入条件下,微波晶体管的电平变化与反射功率的变化成正比,从而证明了微波反射法测量少子寿命的理论成立,还给出了实验数据,说明该种硅片和少子寿命分析仪重复性较好.

关键词： 微波反射法 光电导衰退法 少子寿命 微波晶体管检波器 太阳电池

作者: 徐林 陈风翔 刘梅仓 崔容强

作者单位: 上海交通大学太阳能研究所(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2003年中国太阳能学会学术年会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 370-372

在线出版日期: 2003-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）