用矢量网络分析仪进行在片S参数测试的测量不确定度分析

摘要：

目前,我国有很多台由网络分析仪和微波探针台组成的在片测试系统,测试芯片的S参数.本文介绍了在片测试的测量不确定度计算方法,并根据计算结果绘制出了测量不确定度曲线.

关键词： 网络分析仪 微波探针台 在片测试系统 不确定度

作者: 韩利华 孙静 郑延秋

作者单位: 中国电子科技集团公司第十三研究所信息产业部电子202计量站

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年全国微波毫米波测量技术学术交流会

会议地点: 青岛

会议语种:中文

页码: 165-168

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）