射频频谱分析仪的热设计

摘要：

由于高温会对电子元器件的性能产生非常有害的影响,因此确保发热电子元器件所产生的热量能够及时排出,是仪器设计的一个重要方面.仪器的平均无故障时间(MTBF)及其工作性能的优劣,在很大程度上取决于其是否具有良好的热设计考虑,以及所采取的散热措施是否有效.

关键词： 热设计 热传导 对流 辐射 射频频谱分析仪

作者: 王伟

作者单位: 中国电子科技集团公司第41研究所(山东青岛)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年全国微波毫米波测量技术学术交流会

会议地点: 青岛

会议语种:中文

页码: 242-245

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）