边界扫描测试技术

摘要：

本文简要介绍了边界扫描技术的原理和结构,边界扫描技术在电路板和系统测试中的应用,以及生成边界扫描测试的软件工具.本文还介绍了可测性设计的概念和重要性.

关键词： IEEE 1149.1 边界扫描技术 测试技术 电路板 系统测试

作者: 徐晓松 李二文

作者单位: 上海赛莫电子科技有限公司 泰瑞达(上海)有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年全国微波毫米波测量技术学术交流会

会议地点: 青岛

会议语种:中文

页码: 246-257

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）