TbFe磁性薄膜的磁力显微镜(MFM)成像研究

摘要：

本文介绍了利用磁力显微镜(MFM)对TbFe磁性薄膜进行了不同抬举距离(60-780nm)的成像比较实验.在实验中,比较了低抬举距离(100nm以下)磁力像中样品——针尖的互相干扰.同时发现在高抬举距离磁力像中,随抬举距离增大,出现了与形貌对应的黑斑及与之相关的亮沿.亮沿随抬举距离的变化也改变着位置与强度.

关键词： 磁性薄膜 磁力显微镜 成像

作者: 周宇 王志红 陈琨

作者单位: 电子科技大学微固学院纳米分析中心(成都)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届全国磁性薄膜与纳米磁学会议

会议地点: 天津

会议语种:中文

页码: 41-44

在线出版日期: 2004-05-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）