STN-LCD结构参数对低阈值电压产品高温可靠性的影响

摘要：

本文讨论了STN-LCD结构设计参数对低阈值电压产品高温可靠性的影响.通过正交试验分析了STN-LCD结构设计参数对低阈值产品高温可靠性影响的重要性,并找出了这些结构参数的最佳设计值.从中可以看出,正交试验是改进STN-LCD结构设计的一个有效方法.

关键词： 正交试验 结构参数 低阈值电 液晶显示器件

作者: 王晓燕 孔浩

作者单位: 河北冀雅电子有限公司(石家庄)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004中国平板显示学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 89-90

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）