OLED寿命自动测试系统组建

摘要：

OLED各项光电性能测试在研发和生产中对器件性能的分析和对工艺进一步优化提供重要依据.近期在实验室使用Keithley的仪器搭建OLED测试系统来实现各种OLED的测试需要.文章主要介绍Keithley仪器搭建OLED寿命测试系统以及相关问题的讨论.

关键词： 器件性能 测试系统 平板显示

作者: 费君辉 徐奕斐 徐洪光 沈良 余峰 刘逸忠

作者单位: 上海广电电子股份有限公司平板显示技术研究开发中心(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004中国平板显示学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 172-173

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）