滑石粉中石棉的红外光谱测定

摘要：

目前滑石粉中石棉通常采用X-衍射仪进行测定.在实践中我们发现,纯石棉可在755cm<”-1>左右处有一特征吸收峰,滑石粉在此范围内则不存在此吸收峰,可利用比范围内的峰作为分析滑石样品中石棉的特征峰.与普通X-衍射法比较.该方法具有操作简便快速、结果直观和方法灵敏、结果可靠等优点.

关键词： 滑石粉 石棉 红外光谱

作者: 康彩艳 李廷盛 李芳 温桂清

作者单位: 广西师范大学资源与环境学系(广西桂林)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届中国化学会分析化学年会暨第八届全国原子光谱学术会议

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 327-328

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）