微波集成电路在片测试和校准技术

摘要：

随着微波集成电路制作工艺和技术的不断发展,微波集成电路测试技术尤为重要.本文介绍了在片测试系统的测试和校准方法,指出了正确的测试方法,并比较了不同校准方法的优缺点.

关键词： 微波集成电路 在片测试 校准技术

作者: 韩利华 高翠琢 孙静

作者单位: 信息产业部电子13所(石家庄)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2002”全国第九届微波集成电路与移动通信学术会议

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 239-242

在线出版日期: 2002-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）