塑封微电路的环境试验

摘要：

由于军用和航天用设备的设计方案所采用的塑封微电路越来越多,本文采用一些新的和较为常用的环境试验评价了塑封微电路的可靠性,以满足其规范的功能要求.

关键词： 塑封微电路 环境试验 可靠性

作者: 刘涌

作者单位: 信息产业部电子五所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届电子产品可靠性与环境实验技术经验交流会

会议地点: 陕西华阴

会议语种:中文

页码: 112-114

在线出版日期: 2001-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）