纳米级ZrO<,2>(Y<,2>O<,3>)粉体材料的X-射线荧光光谱分析

摘要：

本文选择粉末压片法制样,用Lucas-Tooth-Pyne强度校正模式,测定了纳米ZrO<,2>(Y<,2>O<,3>)粉体中ZrO<,2>,Y<,2>O<,3>,Cl等成分,结果令人满意.

关键词： 纳米粉体材料 氧化锆 X-射线荧光光谱分析

作者: 史玉芳 黄兆丽 肖红雁

作者单位: 中国地质大学地球系统与矿产资源工程重点实验室(湖北武汉) 中国地质大学材化学院(湖北武汉) 中国地质大学纳米中心(湖北武汉)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届中国化学会分析化学年会暨第八届全国原子光谱学术会议

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 270-271

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）