集成电路高功率微波易损性预测评估系统简介

摘要：

文章第一部分介绍了集成电路高功率微波(HPM)效应的实验方法与基本结论,第二部分介绍预测评估系统的基本结构与功能,最后是应用情况简介.通过实践表明,初步建成的预测评估系统基本具备了对各类集成电路器件在不同参数微波脉冲作用下的易损性情况进行评估的能力,评估结果对于HPM应用及电子系统抗 HPM加固具有一定的参考价值.

关键词： 高功率微波 集成电路 易损性 预测评估系统

作者: 方进勇 杨志强

作者单位: 西北核技术研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会电子对抗分会第十三届学术年会

会议地点: 广西桂林

会议语种:中文

页码: 257-261

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）