关于BIT虚警问题的探讨

摘要：

虚警率是测试性的重要参数之一.结合国内实际情况,简要论述了BIT虚警定义、指标的确定、降低虚警的方法、以及虚警率的预计和验证等问题.

关键词： 机内测试 虚警率 航空系统工程 测试性 可靠性

作者: 田仲

作者单位: 北京航空航天大学可靠性工程研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航空学会可靠性专业委员会学术年会

会议地点: 井冈山

会议语种:中文

页码: 197-203

在线出版日期: 2003-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）